EM TXP 断面試料作製装置
EM TXPは、目視検査に向けて試料を精密に小型化する機械式の断面試料作製装置です。EM TXPを使用することで、試料の前処理を最適化してイオンビームミリングの所要時間を最小限に抑えるとともに、光学顕微鏡検査に向けた表面の鏡面研磨が可能です。
広域イオンビームミリング用に調製された埋込構造
マルチツール機能により、各工程ステップに適したアクセサリーを選択し、関心領域に正確に焦点を合わせ、ツールの回転と傾斜の角度を正確に位置決めすることができます。 精密なプレカットで、不要な部分を除去することによって、試料内の埋込構造を露出させ、イオンビームミリングの所要時間を短縮します。
ミクロラプトルの象牙質形態（c、d）。黒い矢印は断面で見られる象牙芽細胞突起（「odp」と表記）を示しています。出典：Wang Yan et al., Comparative microstructural study on the teeth of Mesozoic birds and non-avian dinosaurs R. Soc. Open Sci.10230147 doi.org/10.1098/rsos.230147; creativecommons.org/licenses/by/4.0/
精密研磨された断面表面。
- 光学顕微鏡検査の精度要件を満たす表面を調製します。
- 目視検査に向けて断面表面を精密研磨します。
- 実体顕微鏡観察下で試料の構造を安全に観察できます。
EM TXPによる試料の研磨 画像提供：Kurt Fuchs Photo Design ドイツ・フォルヒハイムのINAM/IKTSにあるLeica MicrosystemsリファレンスラボラトリーにてChristiansen研究グループチームによって撮影された写真
ワークフローに試料を導入するだけです。
試料サポートの互換性により、効率が向上し、工程数が削減されます。表面処理の全工程において、EM TXPとEM TIC 3Xで同じ試料ホルダーを使用します。調製工程全体を通して一貫した試料の設置と方向により、試料の損傷やずれが生じるリスクが低減されます。
